Estimating the SEU failure rate of designs implemented in FPGAs in presence of MCUs
- Villalta, I.
- Bidarte, U.
- Gomez-Cornejo, J.
- Lázaro, J.
- Astarloa, A.
Aldizkaria:
Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714
Argitalpen urtea: 2017
Alea: 78
Orrialdeak: 85-92
Mota: Artikulua