Estimating the SEU failure rate of designs implemented in FPGAs in presence of MCUs

  1. Villalta, I.
  2. Bidarte, U.
  3. Gomez-Cornejo, J.
  4. Lázaro, J.
  5. Astarloa, A.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2017

Volumen: 78

Páginas: 85-92

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.08.003 GOOGLE SCHOLAR
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