Model Matching with Improved Transmission of Measuring Errors

  1. De La Sen, M.
Revista:
IEEE Transactions on Industrial Electronics

ISSN: 1557-9948,  0278-0046

Año de publicación: 1984

Volumen: IE-31

Número: 1

Páginas: 3-8

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIE.1984.350011 GOOGLE SCHOLAR
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