Model Matching with Improved Transmission of Measuring Errors

  1. De La Sen, M.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Industrial Electronics

ISSN: 1557-9948,  0278-0046

Argitalpen urtea: 1984

Alea: IE-31

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 3-8

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TIE.1984.350011 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus