Test workbench for electronic telecommunication systems

  1. Arias, J.
  2. Jiménez, J.
  3. Aranguren, G.
  4. Lázaro, J.
  5. Martín, J.L.
Actes de conférence:
IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

Année de publication: 2002

Volumen: 3

Pages: 2509-2514

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/IECON.2002.1185368 GOOGLE SCHOLAR
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