Test workbench for electronic telecommunication systems

  1. Arias, J.
  2. Jiménez, J.
  3. Aranguren, G.
  4. Lázaro, J.
  5. Martín, J.L.
Konferenzberichte:
IECON Proceedings (Industrial Electronics Conference)

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 3

Seiten: 2509-2514

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/IECON.2002.1185368 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus