Determination of defect content and defect profile in semiconductor heterostructures

  1. Zubiaga, A.
  2. Garcia, A.
  3. Plazaola, F.
  4. Z̃iga-Pérez, J.
  5. Mũoz-Sanjosé, V.
Actas:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Año de publicación: 2011

Volumen: 265

Número: 1

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1088/1742-6596/265/1/012004 GOOGLE SCHOLAR
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