Aspect-ratio and lateral-resolution enhancement in force microscopy by attaching nanoclusters generated by an ion cluster source at the end of a silicon tip
- Martnez, L.
- Tello, M.
- Daz, M.
- Romn, E.
- Garcia, R.
- Huttel, Y.
Revista:
Review of Scientific Instruments
ISSN: 0034-6748
Año de publicación: 2011
Volumen: 82
Número: 2
Tipo: Artículo