Local Defect Simulation by Means of the Distributed Circuit Modelling

  1. Otaegi, A.
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  3. Fano, V.
  4. Azkona, N.
  5. Recart, F.
  6. Gutiérrez, J.R.
  7. Jimeno, J.C.
Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 1551-7616,  0094-243X

ISBN: 9780735443624

Año de publicación: 2022

Volumen: 2487

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/5.0089323 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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