Conducting tip atomic force microscopy analysis of aluminum oxide barrier defects decorated by electrodeposition

  1. Carrey, J.
  2. Bouzehouane, K.
  3. George, J.-M.
  4. Ceneray, C.
  5. Fert, A.
  6. Vaurès, A.
  7. Kenane, S.
  8. Piraux, L.
Aldizkaria:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Argitalpen urtea: 2001

Alea: 79

Zenbakia: 19

Orrialdeak: 3158-3160

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.1415775 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus