Conducting tip atomic force microscopy analysis of aluminum oxide barrier defects decorated by electrodeposition

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Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2001

Volumen: 79

Número: 19

Páginas: 3158-3160

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1415775 GOOGLE SCHOLAR
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