Langmuir probe and optical emission spectroscopy studies for RF magnetron sputtering during TiON thin film deposition
- Metawa, A.E.
- El-Hossary, F.M.
- Raaif, M.
- SalahEl-Deen, M.
- El-Moula, A.A.A.
Zeitschrift:
Chinese Journal of Physics
ISSN: 0577-9073
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 68
Seiten: 168-177
Art: Artikel