Detecting Critical Resonances in Microwave Amplifiers through Noise Simulations
- Collantes, J.M.
- Otegi, N.
- Anakabe, A.
- Mori, L.
- Barcenilla, A.
- Gonzalez-Perez, J.M.
Actas:
2018 IEEE MTT-S Latin America Microwave Conference, LAMC 2018 - Proceedings
ISBN: 9781538673331
Año de publicación: 2018
Tipo: Aportación congreso