Detecting Critical Resonances in Microwave Amplifiers through Noise Simulations

  1. Collantes, J.M.
  2. Otegi, N.
  3. Anakabe, A.
  4. Mori, L.
  5. Barcenilla, A.
  6. Gonzalez-Perez, J.M.
Actas:
2018 IEEE MTT-S Latin America Microwave Conference, LAMC 2018 - Proceedings

ISBN: 9781538673331

Año de publicación: 2018

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/LAMC.2018.8699028 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus