Local characterization of ultrathin oxides on silicon wafers by scanning tunneling microscopy
- Vasquez de Parga, A.L.
- Ocal, C.
- Ortega, J.E.
- Miranda, R.
ISSN: 0042-207X
Datum der Publikation: 1990
Ausgabe: 41
Nummer: 4-6
Seiten: 784-786
Art: Artikel