A precise analysis of the IEC flickermeter when subject to rectangular voltage fluctuations

  1. Ruiz, J.
  2. Gutierrez, J.J.
  3. Irusta, U.
  4. Lazkano, A.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Año de publicación: 2009

Volumen: 58

Número: 11

Páginas: 3839-3846

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TIM.2009.2020837 GOOGLE SCHOLAR
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