Defects detection in p-n junction isolation by electroluminescence

  1. Fano, V.
  2. Otaegi, A.
  3. Azkona, N.
  4. Cereceda, E.
  5. Pérez, L.
  6. Rodríguez, P.
  7. Recart, F.
  8. Gutiérrez, J.R.
  9. Jimeno, J.C.
Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 1551-7616 0094-243X

ISBN: 9780735417151

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 1999

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/1.5049245 GOOGLE SCHOLAR