Photothermal measurements near a 90° edge. II. Characterization of subsurface rectangular voids and close planar cracks

  1. Sánchez-Lavega, A.
  2. Salazar, A.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1993

Volumen: 74

Número: 1

Páginas: 548-557

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.355268 GOOGLE SCHOLAR
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