Photothermal measurements near a 90° edge. II. Characterization of subsurface rectangular voids and close planar cracks

  1. Sánchez-Lavega, A.
  2. Salazar, A.
Aldizkaria:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Argitalpen urtea: 1993

Alea: 74

Zenbakia: 1

Orrialdeak: 548-557

Mota: Artikulua

DOI: 10.1063/1.355268 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus