Friction measurements of CNx and TiCxNy films by scanning force microscopy

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Revista:
Surface and Interface Analysis

ISSN: 0142-2421

Año de publicación: 2000

Volumen: 30

Número: 1

Páginas: 638-642

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/1096-9918(200008)30:1<638::AID-SIA805>3.0.CO;2-S GOOGLE SCHOLAR

Objetivos de desarrollo sostenible