Friction measurements of CNx and TiCxNy films by scanning force microscopy
- Morant, C.
- Fernández, L.A.
- Quirós, C.
- Fuentes, G.G.
- Elizalde, E.
- Sanz, J.M.
ISSN: 0142-2421
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 30
Nummer: 1
Seiten: 638-642
Art: Artikel