Electricidad y Electrónica
Departamento
San Jose State University
San José, Estados UnidosPublicaciones en colaboración con investigadoras/es de San Jose State University (1)
2002
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Effects of DUT mismatch on the noise figure characterization: A comparative analysis of two Y-factor techniques
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol. 51, Núm. 6, pp. 1150-1156