Método y dispositivo para la detección y monitorización de ensuciamiento superficial

    Inventores/as:
  1. THOMAS SCHAFER
  2. RAFANIELLO, ILIANE
  1. Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea
    info

    Universidad del País Vasco/Euskal Herriko Unibertsitatea

    Lejona, España

EP ES
Publicación principal:

ES2951860T3 (25-10-2023)

Otras Publicaciones:

EP3575782A1 (04-12-2019)

EP3575782B1 (17-05-2023)

Solicitudes:

E18382376 (31-05-2018)

Resumen

La presente invención se refiere a un método para la detección y seguimiento de incrustaciones superficiales desde la nanoescala como herramienta de seguimiento predictivo o en tiempo real. La invención también se refiere a dispositivos para llevar a cabo dicho método y a usos de dicho método, en particular para optimizar los procedimientos de limpieza de dispositivos o componentes de los mismos contaminados por flujos de incrustaciones.

INVENES: E18382376 ESPACENET
lock_openES2951860T3