Numerical simulation of valence losses in Si/SiO<sub>2</sub> films

  1. Aizpurua, J
  2. Howie, A
  3. de Abajo, FJG
Libro:
ELECTRON MICROSCOPY 1998, VOL 3
  1. Benavides, HAC (coord.)
  2. Yacaman, MJ (coord.)

ISBN: 0-7503-0566-5

Año de publicación: 1998

Páginas: 697-698

Congreso: 14th International Congress on Electron Microscopy

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS