Soft X-ray diffraction: An element sensitive tool to characterize patterned arrays of nanomagnets

  1. Sánchez-Hanke, C.
  2. Castaño, F.J.
  3. Hao, Y.
  4. Ross, C.A.
  5. Smith, H.I.
  6. Kao, C.-C.
Actas:
Intermag 2003 - Program of the 2003 IEEE International Magnetics Conference

ISBN: 9780780376472

Año de publicación: 2003

Intermag 2003 - Program of the 2003 IEEE International Magnetics Conference

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/INTMAG.2003.1230667 GOOGLE SCHOLAR
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