Micromagnetic characterization of the reversal of Co/Cu/Co thin-film elements

  1. Redjdal, M.
  2. Ruane, M.F.
  3. Humphrey, F.B.
  4. Castaño, F.J.
  5. Ross, C.A.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2003

Volumen: 93

Número: 10 3

Páginas: 7933-7935

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.1558081 GOOGLE SCHOLAR
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