Soft x-ray diffraction: An element sensitive tool to characterize patterned arrays of nanomagnets

  1. Sánchez-Hanke, C.
  2. Castaño, F.J.
  3. Hao, Y.
  4. Ross, C.A.
  5. Smith, H.T.
  6. Kao, C.-C.
Actas:
Digests of the Intermag Conference

ISSN: 0074-6843

Año de publicación: 2003

Tipo: Aportación congreso