Soft x-ray diffraction: An element sensitive tool to characterize patterned arrays of nanomagnets
- Sánchez-Hanke, C.
- Castaño, F.J.
- Hao, Y.
- Ross, C.A.
- Smith, H.T.
- Kao, C.-C.
Actas:
Digests of the Intermag Conference
ISSN: 0074-6843
Año de publicación: 2003
Tipo: Aportación congreso