Image force effects in electron microscopy

  1. Echenique, P.M.
  2. Howie, A.
Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Año de publicación: 1985

Volumen: 16

Número: 2

Páginas: 269-272

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0304-3991(85)90082-8 GOOGLE SCHOLAR
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