Anion-induced robust ferroelectricity in sulfurized pseudo-rhombohedral epitaxial BiFeO3 thin films via polarization rotation

  1. Xi, G.
  2. Pan, Z.
  3. Fang, Y.-W.
  4. Tu, J.
  5. Li, H.
  6. Yang, Q.
  7. Liu, C.
  8. Luo, H.
  9. Ding, J.
  10. Xu, S.
  11. Deng, S.
  12. Wang, Q.
  13. Zheng, D.
  14. Long, Y.
  15. Jin, K.
  16. Zhang, X.
  17. Tian, J.
  18. Zhang, L.
Revista:
Materials Horizons

ISSN: 2051-6355 2051-6347

Año de publicación: 2023

Volumen: 10

Número: 10

Páginas: 4389-4397

Tipo: Artículo

DOI: 10.1039/D3MH00716B GOOGLE SCHOLAR