Engineering of GMI Effect of Fe-rich Microwires by Stress Annealing
- Zhukov, A.
- Ipatov, M.
- Blanco, J. M.
- Zhukova, V.
- Chew, WC (coord.)
- He, S (coord.)
ISSN: 1559-9450
ISBN: 978-4-8855-2316-8
Año de publicación: 2018
Páginas: 332-337
Congreso: Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama)
Tipo: Aportación congreso