Current saturation through image surface states in scanning tunneling microscopy

  1. Louis, E.
  2. Flores, F.
  3. Echenique, P.M.
Revista:
Solid State Communications

ISSN: 0038-1098

Año de publicación: 1986

Volumen: 59

Número: 7

Páginas: 453-455

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/0038-1098(86)90686-1 GOOGLE SCHOLAR
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