Caracterización de la emisión y susceptibilidad a emi de componentes activos ubicados en circuitos impresos

  1. GAGO BARRIO, JAVIER
Dirigida por:
  1. Josep Balcells Sendra Director/a

Universidad de defensa: Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)

Fecha de defensa: 10 de abril de 2003

Tribunal:
  1. Luis Castañer Muñoz Presidente/a
  2. Juan Antonio Ortega Redondo Secretario/a
  3. Enrique J. Dede Vocal
  4. L. García Franquelo Vocal
  5. Eduardo Zabala Lekue Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 97906 DIALNET

Resumen

La tesis se enmarca en el ámbito de las interferencias electromagnéticas en circuitos electrónicos ubicados en PCB. En todo problema de interferencias intervienen tres elementos: fuente, víctima y medio de propagación. Los programas de simulación EMI y la bibliografía ha puesto mucho énfasis en modelar los caminos de propagación, sin embargo, se ha hecho poco en el modelado de los componentes, sobre todo, desde el punto de vista del comportamiento de los mismos ante perturbaciones presentes en sus entradas. En esta tesis se han desarrollado y contrastado experimentalmente modelos circuitales que describen la susceptibilidad de los amplificadores operacionales (AO) ante perturbaciones de alta frecuencia moduladas en amplitud con señales aleatorias de baja frecuencia (que son la mayor parte de las perturbaciones aparecidas en los circuitos) en sus entradas de señal. También se ha obtenido y comprobado modelos para predecir las perturbaciones conducidas por los componentes digitales en sus líneas de alimentación. Estos modelos incluyen, como novedad respecto a los utilizados hasta ahora en la bibliografía, la impedencia del Cl entre sus terminales de alimentación, y la forma temporal de la corriente de conmutación, lo que permite predecir mejor la forma temporal de la perturbación. Se ha descrito asimismo unos métodos para obtener experimentalmente los parámetros de estos modelos en cualquier componente, a base de ensayos estadarizados. Paralelamente se han descrito y probado unos ensayos basados en circuitos de test propuestos, que permiten comparar la susceptibilidad de diferentes AO ante perturbaciones por sus entradas de alimentación. También se ofrecen métodos de ensayo para comparar la susceptibilidad de diferentes Cl digitales ante perturbaciones de RF moduladas en AM presentes en su entrada de señal o de alimentación. Por último, para obtener información de la emisión radiada de un componente, se ha