X-ray/atomic force microscopy study of the temperature-dependent multilayer structure of PTCDI-C8 films on SiO2

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Revista:
Journal of Physical Chemistry C

ISSN: 1932-7455,  1932-7447

Año de publicación: 2009

Volumen: 113

Número: 11

Páginas: 4502-4506

Tipo: Artículo

DOI: 10.1021/JP808037W GOOGLE SCHOLAR
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