Local Defect Simulation by Means of the Distributed Circuit Modelling

  1. Otaegi, A.
  2. Cereceda, E.
  3. Fano, V.
  4. Azkona, N.
  5. Recart, F.
  6. Gutiérrez, J.R.
  7. Jimeno, J.C.
Actes de conférence:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 1551-7616,  0094-243X

ISBN: 9780735443624

Année de publication: 2022

Volumen: 2487

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1063/5.0089323 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccès ouvert editor
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