Local Defect Simulation by Means of the Distributed Circuit Modelling

  1. Otaegi, A.
  2. Cereceda, E.
  3. Fano, V.
  4. Azkona, N.
  5. Recart, F.
  6. Gutiérrez, J.R.
  7. Jimeno, J.C.
Konferenzberichte:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 1551-7616,  0094-243X

ISBN: 9780735443624

Datum der Publikation: 2022

Ausgabe: 2487

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1063/5.0089323 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
Datenquelle: Scopus