Photoinduced Resist-free Imprinting (PRI) in fullerene thin films as revealed by Grazing Incidence Small-angle X-ray scattering

  1. Gutiérrez-Fernández, E.
  2. Rodríguez-Rodríguez, Á.
  3. García-Gutiérrez, M.-C.
  4. Nogales, A.
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  7. Ezquerra, T.A.
Revista:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Año de publicación: 2021

Volumen: 548

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2021.149254 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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