Measurement of bulk and rear recombination components and application to solar cells with an Al back layer

  1. Lago-Aurrekoetxea, R.
  2. Del Cañizo, C.
  3. Tobías, I.
  4. Luque, A.
Revista:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Año de publicación: 2005

Volumen: 49

Número: 1

Páginas: 49-55

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.SSE.2004.06.017 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus