Pore size distributions in nanoporous methyl silsesquioxane films as determined by small angle x-ray scattering

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Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2002

Volumen: 81

Número: 12

Páginas: 2232-2234

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1507841 GOOGLE SCHOLAR