Domain-wall structure in thin films with perpendicular anisotropy: Magnetic force microscopy and polarized neutron reflectometry study

  1. Navas, D.
  2. Redondo, C.
  3. Badini Confalonieri, G.A.
  4. Batallan, F.
  5. Devishvili, A.
  6. Iglesias-Freire, O.
  7. Asenjo, A.
  8. Ross, C.A.
  9. Toperverg, B.P.
Revista:
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

ISSN: 1550-235X 1098-0121

Año de publicación: 2014

Volumen: 90

Número: 5

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVB.90.054425 GOOGLE SCHOLAR