Analysis of calibration methods for direct emissivity measurements

  1. González-Fernández, L.
  2. Pérez-Sáez, R.B.
  3. Del Campo, L.
  4. Tello, M.J.
Aldizkaria:
Applied Optics

ISSN: 1539-4522,  1559-128X

Argitalpen urtea: 2010

Alea: 49

Zenbakia: 14

Orrialdeak: 2728-2735

Mota: Artikulua

DOI: 10.1364/AO.49.002728 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus