Analysis of calibration methods for direct emissivity measurements

  1. González-Fernández, L.
  2. Pérez-Sáez, R.B.
  3. Del Campo, L.
  4. Tello, M.J.
Zeitschrift:
Applied Optics

ISSN: 1539-4522 1559-128X

Datum der Publikation: 2010

Ausgabe: 49

Nummer: 14

Seiten: 2728-2735

Art: Artikel

DOI: 10.1364/AO.49.002728 GOOGLE SCHOLAR