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  1. Enparantza, R.
  2. Uriarte, L.
  3. Bermejo, F.J.
  4. Etxebarria, V.
  5. Lucas, J.
  6. Rio, J.M.D.
  7. Letchforcd, A.
  8. Faircloth, D.
  9. Stockli, M.
  10. Romano, P.
  11. Alonso, J.
  12. Ariz, I.
  13. Egiraun, M.
Actas:
AIP Conference Proceedings

ISSN: 0094-243X,  1551-7616

Año de publicación: 2009

Volumen: 1097

Páginas: 461-469

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1063/1.3112545 GOOGLE SCHOLAR
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