In-Circuit Characterization of Low-Frequency Stability Margins in Power Amplifiers

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Revista:
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

ISSN: 0018-9480

Año de publicación: 2019

Volumen: 67

Número: 2

Páginas: 822-833

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TMTT.2018.2883568 GOOGLE SCHOLAR

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