Auger electron spectroscopical investigation of interfacial segregation in the Cu-Bi system
- López, G.A.
- Mittemeijer, E.J.
ISSN: 1662-9507, 1012-0386
Datum der Publikation: 2005
Ausgabe: 237-240
Nummer: PART 2
Seiten: 1141-1146
Art: Konferenz-Beitrag
Zeitschrift:
Defect and Diffusion Forum