Focused ion beam preparation of atom probe specimens containing a single crystallographically well-defined grain boundary

  1. Pérez-Willard, F.
  2. Wolde-Giorgis, D.
  3. Al-Kassab, T.
  4. López, G.A.
  5. Mittemeijer, E.J.
  6. Kirchheim, R.
  7. Gerthsen, D.
Zeitschrift:
Micron

ISSN: 0968-4328

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 39

Nummer: 1

Seiten: 45-52

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICRON.2007.01.001 GOOGLE SCHOLAR
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