Sensitivity of thermal emission spectroscopy for the study of structural phase transitions

  1. Echániz, T.
  2. González de Arrieta, I.
  3. Fuente, R.
  4. Urcelay-Olabarria, I.
  5. Risueño, E.
  6. Faik, A.
  7. López, G.A.
  8. Tello, M.J.
Revista:
Infrared Physics and Technology

ISSN: 1350-4495

Año de publicación: 2018

Volumen: 93

Páginas: 16-19

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.INFRARED.2018.07.014 GOOGLE SCHOLAR
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