Dielectric properties of thin insulating layers measured by electrostatic force microscopy

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Revista:
EPJ Applied Physics

ISSN: 1286-0042,  1286-0050

Año de publicación: 2010

Volumen: 50

Número: 1

Tipo: Artículo

DOI: 10.1051/EPJAP/2010010 GOOGLE SCHOLAR

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