Broadband nanodielectric spectroscopy by means of amplitude modulation electrostatic force microscopy (AM-EFM)

  1. Schwartz, G.A.
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Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991,  1879-2723

Año de publicación: 2011

Volumen: 111

Número: 8

Páginas: 1366-1369

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2011.05.001 GOOGLE SCHOLAR
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