AFM based dielectric spectroscopy: Extended frequency range through excitation of cantilever higher eigenmodes

  1. Miccio, L.A.
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Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Año de publicación: 2014

Volumen: 146

Páginas: 55-61

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2014.06.006 GOOGLE SCHOLAR
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