A simulation-based method for the comprehensive analysis of effective lifetime from photoconductance
ISSN: 1062-7995, 1099-159X
Año de publicación: 2007
Volumen: 15
Número: 2
Páginas: 123-142
Tipo: Artículo
ISSN: 1062-7995, 1099-159X
Año de publicación: 2007
Volumen: 15
Número: 2
Páginas: 123-142
Tipo: Artículo