A simulation-based method for the comprehensive analysis of effective lifetime from photoconductance

  1. Bueno, G.
  2. Recart, F.
  3. Jimeno, J.C.
Revista:
Progress in Photovoltaics: Research and Applications

ISSN: 1062-7995,  1099-159X

Año de publicación: 2007

Volumen: 15

Número: 2

Páginas: 123-142

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/PIP.714 GOOGLE SCHOLAR
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